TG-61320C兩箱式冷熱沖擊試驗箱儀器設備用途：

冷熱沖擊試驗箱根據待測試樣的特殊性，分為兩箱式幼態沖擊和三箱式靜態沖擊，本產品既可作冷熱沖擊實驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產品篩選等，同時可通過此試驗，進行產品的質量控制。

TG-61320C兩箱式冷熱沖擊試驗箱產品特點：

1： 泰規儀器生產的新一代冷熱沖擊試驗箱（2箱），箱體結構、制冷系統、控制技術均有較大的技術改革，運行更可靠，維護更方便。

2：制冷機采用原裝進口“泰康”或“ 比澤爾”。

3：控制系統采用彩色觸摸屏中英文顯示按鍵式操作，外觀更加簡單大方，操作設定簡單。

4：提籃在高低溫室內切換轉移，采用氣動控制，轉換時間短，溫度恢復時間短，溫變速度快，設備整體結構緊湊，體積小，采用兩箱法，提高了工作室的溫度均勻程但試件一直處于動態，工作室不能留有測試孔，因此不能帶電、帶信號、帶氣源測試。

5：高低溫沖擊試驗箱配備: SD卡儲存，USB輸出，電腦連接打印，大艙有紙無紙記錄等選配。

6：箱體加工采用數控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。殼體采用優質碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理或（選配）SUS304不銹鋼霧面線條發紋處理，內部材質均采用SU304高級不銹鋼材質。

7：冷熱沖擊試驗箱配備大型觀測視窗附國際品牌照明燈保持箱內明亮，且利用發熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。

TG-61320C兩箱式冷熱沖擊試驗箱適用于標準:

1：GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件；

2：GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB/T 150.5-86 設備環境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。

6：GB11158-2008高溫試驗箱技術條件:

7：GB10589-2008低溫試驗箱技術條件

8：GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件（溫度交變）

9：GJB150.3A-2009裝備實驗室環境實驗方法第3部分：高溫實驗

10：GJB150.4A-2009裝備實驗室環境實驗方法第3部分：低溫實驗

TG-61320C兩箱式冷熱沖擊試驗箱技術參數：