| 儀器型號： | JX-2000B | 品牌： | 成都精新 |
| 測量范圍： | 0.5-3000µm | 用途： | 粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等 |
JX-2000B圖像分析系統(tǒng)包括光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。因為粉體形態(tài)各異，在借助激光粒度儀測試的同時，選用JX-2000B型圖像分析儀，可以更準確的直觀粒度形貌，控制好產(chǎn)品質(zhì)量。
顆粒圖像測試原理：
顆粒在圖像儀上成像，組成圖像的小單位是像素，每個像素有特定的尺寸。通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計，計算出每個顆粒的等面積圓的直徑，以及長徑比等，再對所有的顆粒進行統(tǒng)計，從而得到粒度分布等信息。
圖像分析的主要過程是：
樣品經(jīng)顯微鏡放大成像，攝像頭攝得清晰顆粒形貌圖像傳輸?shù)诫娔X，在電腦上直接觀察粉體顆粒的形貌，通過專有軟件計算分析，得到顆粒個數(shù)、面積、周長、直徑、體積、長徑比、短徑比、圓度系數(shù)等分布數(shù)據(jù)及圖像。同時提供D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等數(shù)據(jù)分布圖表。
應用領域
金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、*、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉：
玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、、催化劑等各種粉體或漿料。
還可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法。
技術參數(shù)
| 序號 | 項目 | 指標 |
| 1 | 分析項目 | 粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等 |
| 2 | 測試范圍 | 0.5～3000μm |
| 3 | 大放大倍數(shù) | 4000倍 |
| 4 | 大分辨率 | 0.1μm |
| 5 | 顯微鏡 | 透反射顯微鏡（可選國產(chǎn)/金相/進口） |
| 6 | 數(shù)字攝像頭(CCD) | 300萬像素/500萬像素 |
| 7 | 目鏡 | 10X 、16X |
| 8 | 物鏡 | 5X 、10X 、20X、 50X、100X |
| 9 | 標尺刻度 | 10μm |
| 10 | 軟件運行環(huán)境 | Windows7 32位 |
| 11 | 接口方式 | USB接口高速穩(wěn)定傳輸 |
報告輸出
1、通過對圖像進行處理后，電腦自動統(tǒng)計出顆粒個數(shù)、面積、周長、體積、直徑、圓形度分布、長徑比分布、粒度分布數(shù)據(jù)，以及D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等特征值。
2、可將樣品彩色縮略圖顯示到報告中，樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭，可選多種報告格式。
