PCT老化試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

　老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于線路板，多層線路板，IC，LCD，磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，測(cè)試其制品的耐壓性，氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

　　PCT老化試驗(yàn)箱在使用應(yīng)注意以下幾點(diǎn)要求：

　　1、滿負(fù)荷工作，每一臺(tái)試驗(yàn)機(jī)都有它的有效測(cè)量范圍，不要超過滿量程80%。長時(shí)間滿量程工作，會(huì)對(duì)設(shè)備使用精度和壽命降低。

　　2、微機(jī)控制電子拉力試驗(yàn)機(jī)，微機(jī)和拉力試驗(yàn)機(jī)的連接線一定要按照說明書來進(jìn)行鏈接，避免鏈接錯(cuò)誤燒壞電器件。

　　3、試驗(yàn)速度選擇不合適：每種材料試驗(yàn)速度都有相應(yīng)的國標(biāo)要求，速度選擇不對(duì)不僅影響設(shè)備壽命，而且測(cè)試結(jié)果也會(huì)不準(zhǔn)確。

　　4、PCT試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)完成離開實(shí)驗(yàn)室時(shí)要把拉力試驗(yàn)機(jī)和微機(jī)電源關(guān)閉，一方面節(jié)約電，一方面為了保證安全和電器件的使用壽命。

　　5、做完試驗(yàn)不用時(shí)，一定卸掉拉斷的被測(cè)試樣，避免夾具長時(shí)間受力變形，方便下次使用。